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產品名稱:

熒光光譜測試儀

產品品牌: 湖北高天 價格:
廠商性質: 生產廠家 更新時間: 2024-03-09
熒光光譜測試儀又稱分光儀,廣泛為認知的為直讀光譜儀。以光電倍增管等光探測器測量譜線不同波長位置強度的裝置。它由一個入射狹縫,一個色散系統,一個成像系統和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區域,并在選定的波長上(或掃描某一波段)進行強度測定。分為單色儀和多色儀兩種。

產品概述

熒光光譜測試儀又稱分光儀,廣泛為認知的為直讀光譜儀。以光電倍增管等光探測器測量譜線不同波長位置強度的裝置。它由一個入射狹縫,一個色散系統,一個成像系統和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區域,并在選定的波長上(或掃描某一波段)進行強度測定。分為單色儀和多色儀兩種。

標準配置:

1. 原裝電致冷Si-PINtanceqi

2. X射線光管模塊

3. 高低壓電源模塊

4. 多道分析模塊

5. 信噪比增強模塊

6. 集成IPAD觸摸屏

7. RoHS鹵素軟件系統

構成

一臺典型的光譜儀主要由一個光學平臺和一個檢測系統組成。包括以下幾個主要部分:

1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統的物點。

2. 準直元件: 使狹縫發出的光線變為平行光。該準直元件可以是一獨立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上,如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。

3. 色散元件: 通常采用光柵,使光信號在空間上按波長分散成為多條光束。

4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束,使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像,其中每一像點對應于一特定波長。

5. 探測器陣列:放置于焦平面,用于測量各波長像點的光強度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。

熒光光譜測試儀技術參數:

測試范圍

RoHS, 鹵素(硫S-鈾U之間的元素)

可測試樣品的種類

固體,液體,粉末

檢出限

≤2ppm;精度:±0.05%

測試時間

30-300s(可以任意調節)

攝像定位系統

800萬真像素高清定位系統

X射線光管使用壽命

>20000小時

探測器

Amptek公司原裝電致冷Si-PIN探測器;

分辨率 145ev±5ev

高壓電源

0-50kev,0-2mA  50w

準直濾光系統

X射線光斑大小直徑:φ1mm,φ3mm,φ5mm; 9種復合濾光系統

工作環境溫/濕度

溫度15-30℃   濕度 ≤75%(不結露)

輸入電源

AC220V±15%   50Hz

額定功率

150W   重量 33kg

儀器尺寸

670*400*330mm

測試樣品腔尺寸

200*260*80mm

專業RoHS指令有害元素和鹵素快速,無損檢測;一體機設計,內置工業計算機和IPAD觸摸屏,無需另配電腦和顯示器。
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